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BS EN 60747-16-5:2013 Semiconductor devices - Microwave integrated circuits. Oscillators, 2013
- 30286250-VOR.pdf [Go to Page]
- English [Go to Page]
- CONTENTS
- FOREWORD
- 1 Scope
- 2 Normative references
- 3 Terms and definitions
- 4 Essential ratings and characteristics [Go to Page]
- 4.1 General requirements [Go to Page]
- 4.1.1 Circuit identification and types
- 4.1.2 General function description
- 4.1.3 Manufacturing technology
- 4.1.4 Package identification
- 4.2 Application description [Go to Page]
- 4.2.1 Conformance to system and/or interface information
- 4.2.2 Overall block diagram
- 4.2.3 Reference data
- 4.2.4 Electrical compatibility
- 4.2.5 Associated devices
- 4.3 Specification of the function [Go to Page]
- 4.3.1 Detailed block diagram – Functional blocks
- 4.3.2 Identification and function of terminals
- 4.3.3 Function description
- 4.4 Limiting values (absolute maximum rating system) [Go to Page]
- 4.4.1 Requirements
- 4.4.2 Electrical limiting values
- 4.4.3 Temperatures
- 4.5 Operating conditions (within the specified operating temperature range)
- 4.6 Electrical characteristics
- 4.7 Mechanical and environmental ratings, characteristics and data
- 4.8 Additional information
- 5 Measuring methods [Go to Page]
- 5.1 General [Go to Page]
- 5.1.1 General precautions
- 5.1.2 Characteristic impedance
- 5.1.3 Handling precautions
- 5.1.4 Types
- 5.2 Oscillation frequency (fosc) [Go to Page]
- 5.2.1 Purpose
- 5.2.2 Circuit diagram
- 5.2.3 Principle of measurement
- 5.2.4 Circuit description and requirements
- 5.2.5 Precautions to be observed
- 5.2.6 Measurement procedure
- 5.2.7 Specified conditions
- 5.3 Output power (Po,osc) [Go to Page]
- 5.3.1 Purpose
- 5.3.2 Circuit diagram
- 5.3.3 Principle of measurement
- 5.3.4 Circuit description and requirements
- 5.3.5 Precautions to be observed
- 5.3.6 Measurement procedure
- 5.3.7 Specified conditions
- 5.4 Phase noise (L (f)) [Go to Page]
- 5.4.1 Purpose
- 5.4.2 Measuring methods
- 5.5 Tuning sensitivity (Sf,v) [Go to Page]
- 5.5.1 Purpose
- 5.5.2 Circuit diagram
- 5.5.3 Principle of measurement
- 5.5.4 Circuit description and requirements
- 5.5.5 Precautions to be observed
- 5.5.6 Measurement procedure
- 5.5.7 Specified conditions
- 5.6 Frequency pushing (fosc, push) [Go to Page]
- 5.6.1 Purpose
- 5.6.2 Circuit diagram
- 5.6.3 Principle of measurement
- 5.6.4 Circuit description and requirements
- 5.6.5 Precautions to be observed
- 5.6.6 Measurement procedure
- 5.6.7 Specified conditions
- 5.7 Frequency pulling (fosc, pull) [Go to Page]
- 5.7.1 Purpose
- 5.7.2 Circuit diagram
- 5.7.3 Principle of measurement
- 5.7.4 Circuit description and requirements
- 5.7.5 Precautions to be observed
- 5.7.6 Measurement procedure
- 5.7.7 Specified conditions
- 5.8 n-th order harmonic distortion ratio (Pnth/P1) [Go to Page]
- 5.8.1 Purpose
- 5.8.2 Circuit diagram
- 5.8.3 Principle of measurement
- 5.8.4 Circuit description and requirements
- 5.8.5 Measurement procedure
- 5.8.6 Specified conditions
- 5.9 Output power flatness (ΔPo,osc) [Go to Page]
- 5.9.1 Purpose
- 5.9.2 Circuit diagram
- 5.9.3 Principle of measurement
- 5.9.4 Circuit description and requirements
- 5.9.5 Precautions to be observed
- 5.9.6 Measurement procedure
- 5.9.7 Specified conditions
- 5.10 Tuning linearity [Go to Page]
- 5.10.1 Purpose
- 5.10.2 Circuit diagram
- 5.10.3 Principle of measurement
- 5.10.4 Circuit description and requirements
- 5.10.5 Precautions to be observed
- 5.10.6 Measurement procedure
- 5.10.7 Specified conditions
- 5.11 Frequency temperature coefficient (α f,temp) [Go to Page]
- 5.11.1 Purpose
- 5.11.2 Circuit diagram
- 5.11.3 Principle of measurement
- 5.11.4 Circuit description and requirements
- 5.11.5 Precautions to be observed
- 5.11.6 Measurement procedure
- 5.11.7 Specified conditions
- 5.12 Output power temperature coefficient (αP,temp) [Go to Page]
- 5.12.1 Purpose
- 5.12.2 Circuit diagram
- 5.12.3 Principle of measurement
- 5.12.4 Circuit description and requirements
- 5.12.5 Precautions to be observed
- 5.12.6 Measurement procedure
- 5.12.7 Specified conditions
- 5.13 Spurious distortion ratio (Ps/P1) [Go to Page]
- 5.13.1 Purpose
- 5.13.2 Circuit diagram
- 5.13.3 Principle of measurement
- 5.13.4 Circuit description and requirements
- 5.13.5 Measurement procedure
- 5.13.6 Specified conditions
- 5.14 Modulation bandwidth (Bmod) [Go to Page]
- 5.14.1 Purpose
- 5.14.2 Circuit diagram
- 5.14.3 Principle of measurement
- 5.14.4 Circuit description and requirements
- 5.14.5 Precautions to be observed
- 5.14.6 Measurement procedure
- 5.14.7 Specified conditions
- 5.15 Sensitivity flatness [Go to Page]
- 5.15.1 Purpose
- 5.15.2 Circuit diagram
- 5.15.3 Principle of measurement
- 5.15.4 Circuit description and requirements
- 5.15.5 Precautions to be observed
- 5.15.6 Measurement procedure
- 5.15.7 Specified conditions
- 6 Verifying methods [Go to Page]
- 6.1 Load mismatch tolerance (ΨL) [Go to Page]
- 6.1.1 Purpose
- 6.1.2 Verifying method 1 (spurious intensity)
- 6.1.3 Verifying method 2 (no discontinuity of frequency tuning characteristics of VCO)
- 6.2 Load mismatch ruggedness (ΨR) [Go to Page]
- 6.2.1 Purpose
- 6.2.2 Circuit diagram
- 6.2.3 Circuit description and requirements
- 6.2.4 Precautions to be observed
- 6.2.5 Test Procedure
- 6.2.6 Specified conditions
- Bibliography
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Circuit diagram for the measurement of the oscillation frequency fosc
- Figure 2 – Circuit diagram for the measurement of the phase noise L (f) (method 1)
- Figure 3 – Circuit diagram for the measurement of the phase noise L (f) (method 2)
- Figure 4 – Circuit diagram for the measurement of the phase noise L (f) (method 3)
- Figure 5 – Circuit diagram for the measurement of the frequency pulling fosc, pull
- Figure 6 – Tuning linearity
- Figure 7 – Circuit diagram for the measurement of the oscillationfrequency temperature coefficient α f,temp
- Figure 8 – Circuit diagram for the measurement of the modulation bandwidth Bmod
- Figure 9 – Sensitivity flatness
- Tables [Go to Page]
- Table 1 – Comparison of phase noise measuring methods
- Français [Go to Page]
- SOMMAIRE
- AVANT-PROPOS
- 1 Domaine d’application
- 2 Références normatives
- 3 Termes et définitions
- 4 Valeurs assignées et caractéristiques essentielles [Go to Page]
- 4.1 Exigences générales [Go to Page]
- 4.1.1 Identification et types de circuits
- 4.1.2 Description générale de la fonction
- 4.1.3 Technologie de fabrication
- 4.1.4 Identification du boîtier
- 4.2 Description d'application [Go to Page]
- 4.2.1 Conformité aux informations sur le système et/ou l'interface
- 4.2.2 Schéma fonctionnel global
- 4.2.3 Données de référence
- 4.2.4 Compatibilité électrique
- 4.2.5 Dispositifs associés
- 4.3 Spécification de la fonction [Go to Page]
- 4.3.1 Schéma fonctionnel détaillé – Blocs fonctionnels
- 4.3.2 Identification et fonction des bornes
- 4.3.3 Description de la fonction
- 4.4 Valeurs limites (système de valeurs assignées maximales absolues) [Go to Page]
- 4.4.1 Exigences
- 4.4.2 Valeurs limites électriques
- 4.4.3 Températures
- 4.5 Conditions de fonctionnement (dans la gamme des températures de fonctionnement spécifiée)
- 4.6 Caractéristiques électriques
- 4.7 Valeurs assignées, caractéristiques et données mécaniques et environnementales
- 4.8 Informations supplémentaires
- 5 Méthodes de mesure [Go to Page]
- 5.1 Généralités [Go to Page]
- 5.1.1 Précautions générales
- 5.1.2 Impédance caractéristique
- 5.1.3 Précautions de manipulation
- 5.1.4 Types
- 5.2 Fréquence d'oscillation (fosc) [Go to Page]
- 5.2.1 But
- 5.2.2 Schéma de circuit
- 5.2.3 Principe de mesure
- 5.2.4 Description et exigences du circuit
- 5.2.5 Précautions à prendre
- 5.2.6 Procédure de mesure
- 5.2.7 Conditions spécifiées
- 5.3 Puissance de sortie (Po,osc) [Go to Page]
- 5.3.1 But
- 5.3.2 Schéma de circuit
- 5.3.3 Principe de mesure
- 5.3.4 Description et exigences du circuit
- 5.3.5 Précautions à prendre
- 5.3.6 Procédure de mesure
- 5.3.7 Conditions spécifiées
- 5.4 Bruit de phase (L (f)) [Go to Page]
- 5.4.1 But
- 5.4.2 Méthodes de mesure
- 5.5 Sensibilité d'accord (Sf,v) [Go to Page]
- 5.5.1 But
- 5.5.2 Schéma de circuit
- 5.5.3 Principe de mesure
- 5.5.4 Description et exigences du circuit
- 5.5.5 Précautions à prendre
- 5.5.6 Procédure de mesure
- 5.5.7 Conditions spécifiées
- 5.6 Effet de poussée de fréquence (fosc,push) [Go to Page]
- 5.6.1 But
- 5.6.2 Schéma de circuit
- 5.6.3 Principe de mesure
- 5.6.4 Description et exigences du circuit
- 5.6.5 Précautions à prendre
- 5.6.6 Procédure de mesure
- 5.6.7 Conditions spécifiées
- 5.7 Effet d'entraînement de fréquences (fosc,pull) [Go to Page]
- 5.7.1 But
- 5.7.2 Schéma de circuit
- 5.7.3 Principe de mesure
- 5.7.4 Description et exigences du circuit
- 5.7.5 Précautions à prendre
- 5.7.6 Procédure de mesure
- 5.7.7 Conditions spécifiées
- 5.8 Taux de distorsion harmonique d'ordre n (Pnth/P1) [Go to Page]
- 5.8.1 But
- 5.8.2 Schéma de circuit
- 5.8.3 Principe de mesure
- 5.8.4 Description et exigences du circuit
- 5.8.5 Procédure de mesure
- 5.8.6 Conditions spécifiées
- 5.9 Planéité de la puissance de sortie (ΔPo,osc) [Go to Page]
- 5.9.1 But
- 5.9.2 Schéma de circuit
- 5.9.3 Principe de mesure
- 5.9.4 Description et exigences du circuit
- 5.9.5 Précautions à prendre
- 5.9.6 Procédure de mesure
- 5.9.7 Conditions spécifiées
- 5.10 Linéarité d'accord [Go to Page]
- 5.10.1 But
- 5.10.2 Schéma de circuit
- 5.10.3 Principe de mesure
- 5.10.4 Description et exigences du circuit
- 5.10.5 Précautions à prendre
- 5.10.6 Procédure de mesure
- 5.10.7 Conditions spécifiées
- 5.11 Coefficient de température de la fréquence (α f,temp) [Go to Page]
- 5.11.1 But
- 5.11.2 Schéma de circuit
- 5.11.3 Principe de mesure
- 5.11.4 Description et exigences du circuit
- 5.11.5 Précautions à prendre
- 5.11.6 Procédure de mesure
- 5.11.7 Conditions spécifiées
- 5.12 Coefficient de température de la puissance de sortie (α f,temp) [Go to Page]
- 5.12.1 But
- 5.12.2 Schéma de circuit
- 5.12.3 Principe de mesure
- 5.12.4 Description et exigences du circuit
- 5.12.5 Précautions à prendre
- 5.12.6 Procédure de mesure
- 5.12.7 Conditions spécifiées
- 5.13 Taux de distorsion parasite (Ps/P1) [Go to Page]
- 5.13.1 But
- 5.13.2 Schéma de circuit
- 5.13.3 Principe de mesure
- 5.13.4 Description et exigences du circuit
- 5.13.5 Procédure de mesure
- 5.13.6 Conditions spécifiées
- 5.14 Largeur de bande de modulation (Bmod) [Go to Page]
- 5.14.1 But
- 5.14.2 Schéma de circuit
- 5.14.3 Principe de mesure
- 5.14.4 Description et exigences du circuit
- 5.14.5 Précautions à prendre
- 5.14.6 Procédure de mesure
- 5.14.7 Conditions spécifiées
- 5.15 Planéité de la sensibilité [Go to Page]
- 5.15.1 But
- 5.15.2 Schéma de circuit
- 5.15.3 Principe de mesure
- 5.15.4 Description et exigences du circuit
- 5.15.5 Précautions à prendre
- 5.15.6 Procédure de mesure
- 5.15.7 Conditions spécifiées
- 6 Méthodes de vérification [Go to Page]
- 6.1 Tolérance de charge non adaptée (ΨL) [Go to Page]
- 6.1.1 But
- 6.1.2 Méthode de vérification 1 (intensité parasite)
- 6.1.3 Méthode de vérification 2 (pas de discontinuité de la caractéristique des fréquences d'accord de l'oscillateur commandé en tension)
- 6.2 Robustesse de charge non adaptée (ΨR) [Go to Page]
- 6.2.1 But
- 6.2.2 Schéma de circuit
- 6.2.3 Description et exigences du circuit
- 6.2.4 Précautions à prendre
- 6.2.5 Procédure d’essai
- 6.2.6 Conditions spécifiées
- Bibliographie
- Figures [Go to Page]
- Figure 1 – Schéma du circuit de mesure de la fréquence d'oscillation fosc
- Figure 2 – Schéma du circuit de mesure du bruit de phase L (f) (méthode 1)
- Figure 3 – Schéma du circuit de mesure du bruit de phase L (f) (méthode 2)
- Figure 4 – Schéma du circuit de mesure du bruit de phase L (f) (méthode 3)
- Figure 5 – Schéma du circuit de mesure de l'effet d'entraînement de fréquences fosc,pull
- Figure 6 – Linéarité d'accord
- Figure 7 – Schéma du circuit de mesure du coefficient de températurede la fréquence d'oscillation αf,temp
- Figure 8 – Schéma du circuit de mesure de la largeur de bande de modulation Bmod
- Figure 9 – Planéité de la sensibilité
- Tableaux [Go to Page]
- Tableau 1 – Comparaison des méthodes de mesure du bruit de phase [Go to Page]